光相關激光粒度儀

BOS-NGH光相關激光粒度儀是我公司新推出的基于動態光散射原理的納米粒度儀。它采用高速光子相關器和專業的高性能光電倍增管作為核心器件，具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，是納米顆粒粒度測定的產品。

基本原理圖

主要性能特點：

  優良的測試原理：本儀器采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理優良、精度較高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；是納米激顆粒粒度測定的儀器。

高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有較高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；

較高的分辨能力和較強的運算功能：使用PCS技術測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用專用集成電路ASIC研制的高速光子相關器，具有識別6ns的較高分辨能力和較高的信號處理速度，可快速實時的采集光子數并計算相關運算，為測試尊確定奠定基礎。

穩定的光路系統：采用短波長LD泵浦激光光源和光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。

高精度溫控系統：樣品池溫控系統和激光器溫控系統精度高達±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態，避免溫度變化對不測試結果的影響，確保測試準確和重復；

較強功能的分析軟件：分析軟件中反演算法采用國際標準推薦的累計量法以及目前比較通用的非負最小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結果與國際的同類產品具有很好的一致性；

測試精準并穩定：高性能的硬件和國際標準化的反演算法的結合，造就NGH測試結果的精準與重復，其測試準確度和重復性等指標均高于國際標準要求。

BOS-NGH升級款功能：

BOS-NGH升級款是我司在BOS-NG標配款多年來在廣大用戶使用過程中不斷發現缺陷；累積經驗優化的成果。

BOS-NGH升級款是在BOS-NG標配款單一波長的基礎上升級為雙波長激光器：采用雙波長（λ=454nm、λ=532nm）激光器搭建而成的光路系統，相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性；在廣大用戶案例中發現有些樣品具有吸光屬性，傳統單一波長激光器對此類樣品無法準確檢測，我司新BOS-NGH搭載的雙波長激光器能有效檢測此類樣品。

BOS-NGH升級款全新散熱系統：BOS-NGH進行了雙氣流設計，熱氣流直接排出儀器外殼，倍增管、激光器、相關器等重要部件不再受熱氣流的影響，測量數據更加準確、更穩定，同時大大延長了這些重要部件的使用壽命。

（測試界面圖）

BOS-NGH光相關納米粒度儀技術參數及詳細配置

BOS-NGH配置清單